1. Design integrat al microscopului metalografic optic și al microscopului cu forță atomică, funcții puternice

2. Are atât funcții de imagine cu microscop optic, cât și microscop cu forță atomică, ambele putând funcționa în același timp fără a se afecta reciproc

3. În același timp, are funcțiile de măsurare optică bidimensională și de măsurare tridimensională cu microscopul de forță atomică

4. Capul de detectare cu laser și etapa de scanare a probei sunt integrate, structura este foarte stabilă, iar anti-interferența este puternică

5. Dispozitiv de poziționare a sondei de precizie, reglarea alinierii spotului laser este foarte ușoară

6. Proba de antrenare cu o singură axă se apropie automat de sonda pe verticală, astfel încât vârful acului să fie scanat perpendicular pe eșantion

7. Metoda inteligentă de alimentare cu ac a detectiei automate din ceramică piezoelectrică presurizată controlată de motor protejează sonda și proba

8. Sistem de poziționare optic cu mărire ultra-înaltă pentru a obține o poziționare precisă a sondei și a zonei de scanare a probei

9. Scaner integrat cu corecție neliniară editor de utilizator, caracterizare nanometrică și precizie de măsurare mai bună de 98%

Specificații: